日本小坂轮廓仪具有多方面的优势，以下是详细介绍：

高精度测量

垂直方向纳米级精度 ：例如 Labview L300plus 型号在垂直方向可实现纳米级的精度，能精确测量微观的轮廓变化。

选件丰富 ：如超高精度旋转轴可进行圆柱度测量，微型测针和小尺寸测针支架可测量微小部位，大测力测针支架及大量程测力系统则用于测量硬质材料等。

强大的数据分析功能

丰富的分析参数 ：具备全系列 150 余种分析参数，如粗糙度参数、波纹度参数、刻线参数、Motif 参数、功能参数、ISO 拐点参数、轮廓度等，全面覆盖不同领域的分析需求。

灵活的分析方式 ：支持任意长度分析、多段分析、自由分析等多种分析方式，还可自定义分析条件及公差，满足个性化分析要求。

数据分析软件 ：配备的轮廓分析软件功能强大，如 Labview L300plus 的 Cyalso 轮廓分析程序，采用人性化的向导式操作，包括手动、自动和专家模式，且支持多种语言。

操作便捷与自动化程度高

自动测量循环 ：采用微机控制，可自动实现测量循环，自动消除安装误差，提高测量效率和准确性。

界面友好直观 ：部分型号的控制面板简洁明了，操作界面直观，人员培训简单，如 Labview L300plus 的 10 英寸彩色液晶触摸屏及控制面板，使操作更加方便快捷。

支持多种操作模式 ：如 ET200A 基于 Windows 操作系统，可与 PC 机连接，利用数据分析系统进行更深入的测量和分析。

稳定可靠的性能

高品质探针 ：使用金刚石（钻石）探针接触测量，确保测量的稳定性和耐用性。

严格的质量控制 ：每台仪器都经过严格的质量检测，确保其性能和精度符合高标准。

广泛的应用领域

机械加工行业 ：适用于各种机械零件素线形状和截面轮廓形状的测量，如轴承行业中的滚动体及滚道的素线形状测量，汽车、拖拉机、摩托车活塞的外型测量等。

电子及半导体行业 ：可用于测量半导体硅片、太阳能基板、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子等表面的台阶形貌、粗糙度、波纹度等。

其他领域 ：还广泛应用于生物医学、光学、航空航天等行业，满足不同领域对精密测量的需求。

便携性与灵活性

便携式设计 ：部分型号如 EF550A-M50/-M58 为便携式测量仪，可在机加工车间等现场环境下对较大工件进行测量，方便灵活

。

数据兼容性与可追溯性

数据输出格式多样 ：测量数据可按指定的输出格式打印输出，方便与其他系统或软件进行数据共享和进一步分析。

测量数据可追溯 ：仪器提供详细的测量记录和数据存储功能，确保测量结果的可追溯性，有助于质量控制和过程管理。

售后服务完善

专业的服务团队 ：日本小坂株式会社及其中文销售公司质朋仪器贸易（上海）有限公司等，拥有专业且完整的售前及售后服务团队，为客户提供技术咨询、安装调试、培训、维修等全方位服务。

关键词：轮廓仪