2025-07-02 19:32:14
光栅尺是精密测量仪器中的核心元件,主要用于直线或旋转位移的高精度测量。其作用和工作原理基于光学干涉和莫尔条纹技术,广泛应用于数控机床、坐标测量机(CMM)、半导体设备等领域。以下是详细说明:
一、光栅尺的作用
1. 位移测量
将机械位移转换为电信号,通过检测光栅条纹的变化计算移动距离和方向。
2. 闭环控制
在数控系统中实时反馈位置信息,与伺服电机构成闭环控制,修正机械误差(如丝杠反向间隙、热变形)。
3. 高分辨率检测
分辨率可达纳米级(如1nm),远高于传统编码器或磁栅尺。
二、光栅尺的精度关键指标
1. 分辨率(Resolution)
最小可检测位移量,取决于光栅刻线密度(如20nm~1μm)。高精度光栅每毫米刻线数可达数千条(如10000线/mm)。
2. 精度等级(Accuracy)
系统误差范围,通常以±μm/m表示。例如:普通级:±5μm/m ;超高精度级:±0.1μm/m(如海德汉的某些型号)。
3. 重复性(Repeatability)
多次测量同一位置的一致性,通常优于绝对精度(如±0.05μm)。
三、维护与校准
定期清洁:避免灰尘遮挡光路(如使用无水乙醇清洁标尺光栅)。
温度补偿:内置温度传感器实时修正热变形误差。
动态校准:通过激光干涉仪进行在线校准。
四、技术发展趋势
1. 绝对式光栅尺:无需回零,直接输出绝对位置信息。
2. 集成化设计:将读数头与信号处理电路集成,减少外部干扰。
3. 抗污染技术:自清洁涂层或气密封装(适用于恶劣环境)。
光栅尺的精度和可靠性使其成为超精密制造的核心传感器,未来随着微纳加工技术的进步,其性能还将进一步提升。
日本进口KOSAKA 台阶仪,有ET200A,ET4000系列和ET10000,可测量各类薄膜厚度,最小测量单位可达0.1nm,配置行业领先的直动式传感器及高精度光栅尺、测量轴,拥有较高的定位精度、直线精度、测量精度及重复性。
关键词:台阶仪 | 膜厚仪 | 薄膜测厚仪 | 段差分析仪