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光学表面形貌测量中的常见难题

2020-09-18 16:48:59

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导读:本文主要介绍非接触式光学形貌测量中遇到的常见难题,包括测量速度和精度的取舍、过高的倾斜角度、极高或极低的表面反射率等等情况。


光学测量具有不接触样品、不留下测量痕迹、速度快等等各种优点,但世界上没有任何一种技术是完美的,今天为大家普及一下光学测量可能会遇到的常见难题,以供在调研和购买阶段参考。



首先,测量领域要始终牢记的一点是“速度和精度不可兼得”。一般来说,测量速度越快,测量精度就越值得质疑,数据的可信性也越值得推敲。想想看,你的眼睛也可以看做一台相当精密的量测仪器,但是在你迅速跑动的过程中,你看东西的清晰度如何呢?


其次,光学测量在针对倾斜角度很高的区域时,数据经常会失真。例如你要测量硅片上的电极,这些电极好像是“凸”字的上半边,基板是下半边。传感器一般是垂直于样品表面的,光到达凸字最上边的“一”,可以很好地反射回去;但到了两边的“丨”,大部分光就会被反射到不知道什么地方去了,只有少量的光能返回去被转化成数字信号。下图中圈出的角度越接近90°,测量就越困难,数据也越容易失真。



再次,需要知道的是,测量是一回事,解析又是一回事。市场上很多光学测量仪器精度可能不够,无法测量你的样品,但是测量软件上展示出来的结果却很平滑很漂亮,为什么呢?这无非是在输出测量结果的数据或者图形之前,软件已经进行了数学计算和算法处理,给你看的结果,是加了“滤镜”处理过的而已。



最后,光学测量靠的是光的各种原理,例如折射、反射、穿透、干涉等等;同时,所使用的光源也多种多样:白光、激光、X-Ray、LED,不一而足。不同的光源具有不同的波长,面对不同材质的样品时,其测量效果也会不一样。半导体、光学元器件等等行业的产品,其材质对光具有不同的吸收曲线(Absorption Curve),或者高低不同的反射率、折射率,这些因素都会影响最终的测量结果。这也是为什么很多时候光看彩页上的参数是不够的,实际测量样品的结果才最有说服力。



使用者的测量需求千差万别,综合考量精度、速度、预算等各个方面的状况,才能找到性价比最高的仪器。但市场上的产品种类繁多,令人眼花缭乱,找到对的人帮您推荐合适的产品,能节省您大量的时间和精力。


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关键词:台阶仪 | 光学形貌仪 | 三维表面形貌 | 表面粗糙度仪


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