首页 - 公司产品 - 台阶仪/膜厚仪 - KOSAKA 台阶仪微细形状测定机 ET200A
ET200A 产品图片

KOSAKA 台阶仪微细形状测定机

ET200A

产品概述:

● 适用于二次元表面纳米等级段差台阶测定、粗糙度测定。


● 高精度.高分解能,搭配一体花岗岩结构,安定的测量过程及微小的测定力可对应软质样品表面。


● 采用直动式检出器,重现性高。

相关介绍

台阶仪ET200A产品参数


最大试片尺寸 Φ200mm×高度50mm
重现性 1σ ≤ 1nm
测定范围 Z:600um X:100mm
分解能 Z:0.1nm X:0.1um
测定力 10UN~500UN (1mg-50mg)
载物台 Φ160mm, 手动360度旋转

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